Ellipsometry optical rotation specific rotation dc Molar rotation

광회전(optical rotation) specific rotation = [α] = α/dc Molar rotation = [Φ] = 100α/l

c b C B O Miller 지수 A a 절편 1/h, 1/k, 1/l 이면

$X선회절현상 이란 ? (X-Ray Diffraction, XRD) AB = BC = d Sin q n$

$X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD) 구성 Diffractometer는 크게 나누어서 X선(X-Rays)을 발생 시키 는 X선$

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Ellipsometry

광회전(optical rotation) specific rotation = [α] = α/dc Molar rotation = [Φ] = 100α/l M 원편광 이색성(circular dichroism) molar ellipticity [Θ] = 100 ψ/l M circular dichroism = Δε= εL – εR = (AL- AR)/l M α = rotation angle, degrees l = path length, cm Ψ =ellipticity, degrees c = concentration, g cmㅡ 1 ε = molar absorpticity M= concentration mol L-1 d = path length, dm

X – Ray Diffaction (XRD)

c b C B O Miller 지수 A a 절편 1/h, 1/k, 1/l 이면 (h, k, l)

$X선회절현상 이란 ? (X-Ray Diffraction, XRD) AB = BC = d Sin q n$

X선회절현상 이란 ? (X-Ray Diffraction, XRD) AB = BC = d Sin q n l = 2 d Sin q Inha univ. Oh nam-seok

$X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD) 구성 Diffractometer는 크게 나누어서 X선(X-Rays)을 발생 시키 는 X선$

X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD) 구성 Diffractometer는 크게 나누어서 X선(X-Rays)을 발생 시키 는 X선 발생장치(X-Ray Generator, XG), 각도 2 q를 측정하 는 고니오메터(Goniometer), X선 강도(X-Rays Intensity)를 측정하는 계수기록장치(Electronic Circuit Panel, ECP), 이 러한 것들을 제어하고 연산을 하는 제어연산장치 (Control/Data Processing Unit, Computer) 의 4 부분으로 되어있다 Inha univ. Oh nam-seok