O Raiox e suas Caractersticas Eletromagnticas Teoria Cinemtica

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O Raio-x e suas Características Eletromagnéticas

O Raio-x e suas Características Eletromagnéticas

Teoria Cinemática X Teoria Dinâmica • Teoria cinemática é aplicada para a maioria dos

Teoria Cinemática X Teoria Dinâmica • Teoria cinemática é aplicada para a maioria dos materiais. • Teoria dinâmica é necessária para descrição da difração em cristais perfeitos (monocristais) e materiais com alto coeficiente de absorção. • Descreve a posição (Lei de Bragg), mas não a forma o pico de difração. • Difratômetros de alta resolução

Equações de Maxwell • Lei de Faraday

Equações de Maxwell • Lei de Faraday

Teoria Dinâmica • Situação semelhante à difração de elétrons • Difração de Elétrons –

Teoria Dinâmica • Situação semelhante à difração de elétrons • Difração de Elétrons – Um feixe de entrada e múltiplos feixes de saída • Difração de Raios-x – Um feixe de entrada e um feixe de saída • Varreduras pelo espaço recíproco (Esfera de Ewald)

Difração de Raios-x

Difração de Raios-x

Equação de Laue

Equação de Laue

Equação de Laue

Equação de Laue

Rede Recíproca

Rede Recíproca

Rede Recíproca

Rede Recíproca

Rede Recíproca

Rede Recíproca

Método do Pó

Método do Pó

Difração X Espalhamento • O fenômeno de difração de raios-x envolve uma mudança de

Difração X Espalhamento • O fenômeno de difração de raios-x envolve uma mudança de 90 o da polarização do feixe difratado em relação ao incidente • Espalhamento não existe correlação de polarização entre o feixe de saída e o incidente • No espalhamento nenhuma nova onda é excitada, apenas o feixe de raios-x incidente é refletido pela densidade eletrônica das fases presentes na amostra.

Difração de Baixo ngulo • Incidência razante • Varredura do detector • Penetração do

Difração de Baixo ngulo • Incidência razante • Varredura do detector • Penetração do feixe apenas em espessura de poucos micrômetros • Percorre o espaço recíproco de forma distinta à varredura -2

Reflexão de Raios-x • • ngulos inferiores à 4 o Varredura -2 Comportamento semelhante

Reflexão de Raios-x • • ngulos inferiores à 4 o Varredura -2 Comportamento semelhante à luz Lei de Snell

Difração de Raios-x em Semicondutores • Aplicação em microeletrônica e optoeletrônica • Substratos monocritalinos

Difração de Raios-x em Semicondutores • Aplicação em microeletrônica e optoeletrônica • Substratos monocritalinos (Czochralksi) • Camadas epitaxiais artificiais • Teoria dinâmica • Difratômetros de alta resolução – Monocromadores – Duplo cristal e de 4 e 5 cristais

Difratômetros de Duplo Cristal

Difratômetros de Duplo Cristal

Difratômetro de Quatro Cristais

Difratômetro de Quatro Cristais

Não-Homogeneidade Lateral

Não-Homogeneidade Lateral

Referências Bibliográficas • Elements of X-Ray Diffraction – B. D. Cullity – 2 a.

Referências Bibliográficas • Elements of X-Ray Diffraction – B. D. Cullity – 2 a. Edição – Addison Wesley, 1978. • X-Ray Scattering from Semiconductors – Paul F. Fewster - 2 a. Edição – Imperial College Press – 2003 • Theory of X-Ray Diffraction in Crystals – William H. Zachariasen – J. Wiley & Sons 1945

Referências Bibliográficas • Théorie Dynamique de la Diffraction des Rayons X par les Cristaux

Referências Bibliográficas • Théorie Dynamique de la Diffraction des Rayons X par les Cristaux Déformés – D. Taupin – Bull. Soc. Franç. Miner. Crist. , LXXXVII, p. 469 -511, 1964 • Dynamical Theory of Diffraction Applicable to Crystals with any ind of small distortion – S. Takagi, Acta. Crys. , 15, p. 1311, 1962