Vlogatott fejezetek az anyagvizsglatok terletrl Korszer anyagok s

  • Slides: 13
Download presentation
Válogatott fejezetek az anyagvizsgálatok területéről Korszerű anyagok és technológiák, M. Sc. 2016. Bán Krisztián

Válogatott fejezetek az anyagvizsgálatok területéről Korszerű anyagok és technológiák, M. Sc. 2016. Bán Krisztián

Anyagvizsgálatok Fázisviszonyok meghatározása: Szövetelem- és fázisarány meghatározása Szövetelemek azonosítása Fázisok azonosítása Optikai mikroszkópia Elektronmikroszkópia

Anyagvizsgálatok Fázisviszonyok meghatározása: Szövetelem- és fázisarány meghatározása Szövetelemek azonosítása Fázisok azonosítása Optikai mikroszkópia Elektronmikroszkópia Vegyi összetételelemzés • • EDS, EDAX • Fázisátalakulások vizsgálata: DTA, DSC Atomerő mikroszkóp CT Forrás: Röntgendiffrakció

Anyagvizsgálatok Röntgendiffrakció: Bragg-egyenlet: (hkl)

Anyagvizsgálatok Röntgendiffrakció: Bragg-egyenlet: (hkl)

Anyagvizsgálatok Röntgendiffrakció: Forrás: Berke, Győri, Kiss: Szerkezeti anyagok technológiája I.

Anyagvizsgálatok Röntgendiffrakció: Forrás: Berke, Győri, Kiss: Szerkezeti anyagok technológiája I.

Anyagvizsgálatok Röntgendiffrakció:

Anyagvizsgálatok Röntgendiffrakció:

Anyagvizsgálatok Röntgendiffrakció: Forrás: Kittel: Bevezetés a szilárdtestfizikába

Anyagvizsgálatok Röntgendiffrakció: Forrás: Kittel: Bevezetés a szilárdtestfizikába

Anyagvizsgálatok

Anyagvizsgálatok

Anyagvizsgálatok Elemanalízis: • optikai emissziós spektrométer (OES), • röntgen fluoreszcens spektrométer (XRF), • elektronsugaras

Anyagvizsgálatok Elemanalízis: • optikai emissziós spektrométer (OES), • röntgen fluoreszcens spektrométer (XRF), • elektronsugaras mikro elemanalízis (EPMA). Emissziós spektrometriás módszerek: • atomos és gerjesztett állapotba hozás: ív, szikra, plazma, lézersugár, • emittált elektromágneses (fény)sugárzás felbontása komponenseire (spektrum), • egyes atomok, ionok elektronátmenetei specifikusak, • a sugárzás intenzitása arányos a kibocsátó atomok számával, vagyis a koncentrációjával, • nagy bizonytalanság a kisebb rendszámú elemek koncentrációjának meghatározásában. E 2 E 1 E 2 -E 1 = h Atom-spektroszkópiai módszerek alapja: összehasonlítás (bizonylatolt) hiteles anyagmintákkal.

Anyagvizsgálatok Röntgen fluoreszcens spektrometria (XRF): • belső elektronhéj ionizációja röntgensugárral, • a belső elektronhéj

Anyagvizsgálatok Röntgen fluoreszcens spektrometria (XRF): • belső elektronhéj ionizációja röntgensugárral, • a belső elektronhéj hiányát egy külső pályáról pótolja → karakterisztikus elektromágneses sugárzás. Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA): • elektronmikroszkópban alkalmazott eljárás, • a becsapódó elektronok energiája hozza létre a belső elektronhéj ionizációt, • detektálás: • energiadiszperzív (ED XRF): a detektorba jutó fotonok energiájával arányos jel, energiadiszperzív röntgenanalizátor (EDS/EDX/EDAX), • hullámhosszdiszperzív (WD XRF): goniométerre szerelt analizátor kristállyal (Braggfeltétel), • analízis módjai: • pontanalízis, • pásztázó mód.

Anyagvizsgálatok

Anyagvizsgálatok

Anyagvizsgálatok

Anyagvizsgálatok

Anyagvizsgálatok

Anyagvizsgálatok

Anyagvizsgálatok

Anyagvizsgálatok