Themis e sat 4000 K 25 4500 3000

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Themis成像器件光电性能测试系统 实测参数 明场. . . 噪声. . . 明场均值 线性饱和点 项目 随机噪声() 饱和输出 (μe.

Themis成像器件光电性能测试系统 实测参数 明场. . . 噪声. . . 明场均值 线性饱和点 项目 随机噪声() 饱和输出 (μe. sat) 4000 结果 总增益(K) 最大 线性 最大 25 4500 测量项目 单位 3000 0. 0955 3. 348 DN/e- 35. 06 e- 1500 4080. 47 DN 500 DN 42. 74 ke- 3955. 11 DN 41. 43 ke- 1218. 90 X(倍数) 20 3500 15 2500 2000 10 1000 5 0 0 d. B 1181. 45 X(倍数) 61. 45 d. B 203. 05 X(倍数) 300, 000 46. 15 d. B 250, 000 0. 47 DN 200, 000 4. 90 e- 150, 000 暗电流 201541 100, 000 线性度 0. 243025883 e-/s %(±) PRNU 1288 1. 30 % 图像传感器件量子效率QE 86. 38% % 线性 最大信噪比 DSNU 0, 0002 0, 0003 0, 0004 0 0 0, 0001 明场均值 61. 72 动态范围 (DR) 0, 0001 350, 000 2000, 000 3000, 0004 暗场均值 暗电流 400, 000 1000, 0003 明场噪声 方差明暗差 K值计算点 0, 000 (50, 000) 0, 0002 4000, 000 方差明暗差 5000, 000 16 14 12 10 8 6 4 2 0 0 0, 0002 暗场均值 0, 0004

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