OXIDATION DealGrove Model oxidation mechanism model oxidation reaction

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OXIDATION(산화공정) § Deal-Grove Model은 oxidation mechanism을 설명하는 model로써, oxidation reaction은 oxide/ambient gas interface 보다는

OXIDATION(산화공정) § Deal-Grove Model은 oxidation mechanism을 설명하는 model로써, oxidation reaction은 oxide/ambient gas interface 보다는 oxide/substrate interface 에서 일어난다고 가정하고, 다음 3가지 현상들에 의해 일어난다. ① Ambient gas에서 Oxide표면으로의 확산 : F 1 Boundary/Stagnant Layer Oxide Substrate δs ② Oxide Layer를 통해 oxide/substrate interface로의 확산 : F 2 ③ Substrate과 반응 : F 3 -6 - 과학기술부 국가지정연구실 National Research Lab. 6

OXIDATION(산화공정) -7 - 과학기술부 국가지정연구실 National Research Lab. 7

OXIDATION(산화공정) -7 - 과학기술부 국가지정연구실 National Research Lab. 7

OXIDATION(산화공정) 유기물 제거 NATIVE OXIDE 제거 -9 - 과학기술부 국가지정연구실 National Research Lab. 9

OXIDATION(산화공정) 유기물 제거 NATIVE OXIDE 제거 -9 - 과학기술부 국가지정연구실 National Research Lab. 9

OXIDATION(산화공정) 2. Wafer crystal orientation(〔 111〕, 〔 100〕) Si Si a 〔 111〕, 〔

OXIDATION(산화공정) 2. Wafer crystal orientation(〔 111〕, 〔 100〕) Si Si a 〔 111〕, 〔 100〕wafer의 원자밀도 비교 Si Si 〔 100〕 Si Si √ 2 a Si 단위면적 = S 단위면적당 Si원자 개수 (원자밀도)=U S 100 = a 2 U 100 = 2/a 2 S 111 = ½ x (√ 2 a)2 x √ 3/2 = √ 3/2 a 2 U 111 = 2/√ 3(2/a 2) 〔 111〕 U 111 > U 100 - 11 - 과학기술부 국가지정연구실 National Research Lab. 11

OXIDATION(산화공정) Atomic Force Microscopy Laser • Schematic of AFM Photodiode Piezo Cantilever Feedback and

OXIDATION(산화공정) Atomic Force Microscopy Laser • Schematic of AFM Photodiode Piezo Cantilever Feedback and x, y, z Scan Control Sample x, y, z Scanner Display - 14 - (CD-ROM) 과학기술부 국가지정연구실 National Research Lab. 14

OXIDATION(산화공정) Atomic Force Microscopy • Interatomic force vs. distance curve. - 15 - 과학기술부

OXIDATION(산화공정) Atomic Force Microscopy • Interatomic force vs. distance curve. - 15 - 과학기술부 국가지정연구실 National Research Lab. 15

OXIDATION(산화공정) SPM Operation Modes Contact Mode Provide atomic resolution in air Destructive method for

OXIDATION(산화공정) SPM Operation Modes Contact Mode Provide atomic resolution in air Destructive method for soft sample DFM(Dynamic Force Mode) <Intermittent Mode> <Non-Contact Mode> Nondestructive method for soft sample Suitable mode for the rough and sticky surface - 16 - 과학기술부 국가지정연구실 National Research Lab. 16

OXIDATION(산화공정) ITO (Contact mode) Pattern image-3 D (Contact mode) OTFT (Non-contact mode) Charging image-3

OXIDATION(산화공정) ITO (Contact mode) Pattern image-3 D (Contact mode) OTFT (Non-contact mode) Charging image-3 D (Non-contact mode) Positive charge Negative charge - 17 - 과학기술부 국가지정연구실 National Research Lab. 17