Outils Boundary Scan JTAG Mutualisation Journes Electroniques IN

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Outils Boundary Scan (JTAG) Mutualisation ? Journées Electroniques IN 2 P 3 05 -07

Outils Boundary Scan (JTAG) Mutualisation ? Journées Electroniques IN 2 P 3 05 -07 Juin 2012 C. Oziol (IPNO), G. Perrot (LAPP), K. Tun-lanoë (IPNO)

Plan • • La fonction du Boundary Scan Les outils utilisés à L’IN 2

Plan • • La fonction du Boundary Scan Les outils utilisés à L’IN 2 P 3 Résultats de l’enquête IN 2 P 3 La mutualisation pourquoi, comment? 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN 2 P 3 G. Perrot 2

Le Boundary Scan Nouveau: Test liens rapides 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN

Le Boundary Scan Nouveau: Test liens rapides 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN 2 P 3 G. Perrot 3

Les outils BS à l’IN 2 P 3 • Deux produits différents au sein

Les outils BS à l’IN 2 P 3 • Deux produits différents au sein de l’IN 2 P 3 – JTAG Technologies utilisé conjointement par l’IPN et le CSNSM. (2008) – Goepel/ASTER utilisé par le LAPP. (2000) • Les 2 outils ont globalement les mêmes fonctionnalités de test! 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN 2 P 3 G. Perrot 4

Outils au LAPP • TESTWAY (ASTER) – Vérification des règles de conceptions sur la

Outils au LAPP • TESTWAY (ASTER) – Vérification des règles de conceptions sur la schématique Cadence (option). – Génération des fichiers pour Cascon à partir du routage. – Acheté initialement en 2000 pour la reconnaissance automatique des résistances de terminaison (série et parallèle) qui n’existait pas ailleurs. • CASCON (GÖPEL) – Génération des tests Boundary Scan. – Application des tests sur la carte. – Identification des défauts sur la carte. • Quad. View (ASTER) – – Visualisation interactive schéma, routage ou vue synthétique d’un net. (Cadence) Visualisation sur schéma ou routage de la couverture de test. (Testway ou Cascon) Visualisation sur schéma ou routage du déroulement du test en direct. (Cascon) Visualisation sur schéma ou routage des net en erreur dans le test BS (Cascon) 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN 2 P 3 G. Perrot 5

Testway • Analyse la netlist de Cadence (schématique). • Identifie la chaîne BS, les

Testway • Analyse la netlist de Cadence (schématique). • Identifie la chaîne BS, les composants BS et y associe les modèles BSDL correspondants. • Génère des modèles à partir des informations disponibles (entrées-sorties) pour les autres composants. • Permet d'introduire des modifications à la netlist. • Vérifie la qualité de la chaîne BS (signaux connectés, présence de résistance de Bypass…) • Identifie les tests de Cluster possibles. • Génère les fichiers pour Cascon (Göpel) 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN 2 P 3 G. Perrot 6

Cascon • Génère les tests. – Test d'infrastructure: vérifie la chaîne BS. – Tests

Cascon • Génère les tests. – Test d'infrastructure: vérifie la chaîne BS. – Tests d'interconnections: • Stuck at 0 • Stuck at 1 • Counter tests – Tests de RAM, FIFOs, Clusters – Programmation de composants programmables, de Flash par BS. • Exécute les tests. – Contrôleur branché sur un port USB du PC. • Fournit un diagnostique détaillé. 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN 2 P 3 G. Perrot 7

Quad. View • Interface avec Cadence schéma et routage, pdf labelisé, Testway. • Intégration

Quad. View • Interface avec Cadence schéma et routage, pdf labelisé, Testway. • Intégration complète dans Cascon. • 3 Types d’utilisation: – Cadence: • Permet de visualiser interactivement un net dans le schéma et dans le routage. • Permet de créer une vue synthétique (schéma) d’un net avec tous les composants connectés. – Avec Testway ou Cascon: • Montre la couverture d’un test BS sur le schéma ou le routage. – Avec Cascon: • En mode debugging, visualisation en ligne sur le schéma ou le routage des pins testées. • A partir des nets en erreurs dans le test BS, visualisation interactive sur le schéma ou le routage des nets concernés. 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN 2 P 3 G. Perrot 8

Interfaces (Testway, Cascon, Quad. View) 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN 2 P

Interfaces (Testway, Cascon, Quad. View) 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN 2 P 3 G. Perrot 9

Outils à l’IPNO et CSNSM • JTAG Technologies – – Pro. Vision Teststation: génération

Outils à l’IPNO et CSNSM • JTAG Technologies – – Pro. Vision Teststation: génération et exécution des tests Pro. Vision Flashstation: programmation flash Pro. Vision PLDstation: programmation FPGAs Pro. Vision Diagnostics: interprétation des résultats 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN 2 P 3 G. Perrot 10

Interfaces JTAG Technologies 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN 2 P 3 G.

Interfaces JTAG Technologies 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN 2 P 3 G. Perrot 11

Coûts • IPNO/CSNSM: • LAPP: – Achat: 5 licences flottantes – Achat: 1 licence

Coûts • IPNO/CSNSM: • LAPP: – Achat: 5 licences flottantes – Achat: 1 licence fixe • Aster Testway (année 2000) 4600€ • Goepel Cascon Galaxy Classic (année 2000) 21350€ • Aster Quadview (année 2008) 6900€ – Maintenance (2012): • Aster Testway 668€ • Goepel Cascon Galaxy Classic 2850€ • Aster Quadview 1272€ – Depuis cette année nous ne payons plus la maintenance, mais les logiciels restent opérationnels en l’état. (USB dongles) 05 -07 Juin 2012 • JTAG Technologies (2008) 8300€ (1 seul tap contrôleur) • Pour info: visualiseur (5 licences) 1900€ (2009) • JTAG Technologies 2900€ (1 licence flottante génération et diagnostic, 3 licences flottantes exécution, sans visualiseur) – Plus de licence à l’IPNO. Les produits ne fonctionnent plus sans la maintenance. Journées Electroniques IN 2 P 3 G. Perrot 12

Enquête BS au sein de l’IN 2 P 3 Laboratoires IN 2 P 3

Enquête BS au sein de l’IN 2 P 3 Laboratoires IN 2 P 3 (dans l'ordre des réponses) Utilisation Souhait accession Sous-traitance des tests BS moyens BS en outils BS Développement Réalisation tests protoype tests et/ou production Hardware Production Prototype . . . . LAL (D. Breton) Parfois LPSC (C. Vescovi) NON . . . IPNO (C. Oziol) OUI NON (sauf exception) OUI (Productions>20 cartes) JTAG Technologies OUI IMNC (L. Pinot) NON ? (n'y a pas réfléchi) . . . LMA (B. Lagrange) NON . . GANIL (A. Boujrad) NON OUI (peut être dans l’avenir) . . CENBG (JL. Pedroza) NON OUI ça dépend. . OUI . . . . CSNSM (D. Linget) OUI OUI (fonction disponibilité) OUI JTAG Technologies OUI NON Pas immmédiatement Pas concerné IPHC Microelec (C. Colledani) OUI (ASICs) Dans certains cas BS + Test à pointe Utilisateurs des outils BS Software Produit Maison Port Parallèle Potentiels Utilisateurs des outils BS Géneration Réalisation Production des tests . . Prototype Remarques et Suggestions Géneration Réalisation des tests . . NON NON Utilisation uniquement production. Sous-traitant efficaces. Préférence pour sous-traitant . . . OUI (selon nb de cartes) . . . . Mutualisation des outils pour réduction des couts de maintenance . . . mon service est généraliste, l'électronique n'est qu'une des facettes de notre activité. . . . Je n'utilise pas ces moyens de tests et n'envisage pas pour l'instant de les utiliser . . OUI OUI . . OUI (fonction disponibilité) NON . . . . A évaluer OUI . . La convivialité des outils est également cruciale, surtout s'il s'agit d'utilisations occasionnelles. OUI (ASICs) Production: ASICs sur wafer avec probes cards IPNL (H. Mathez) NON . . . LAPP (G. Perrot) OUI NON OUI Aster Testway + Goepel Cascon Goepel OUi OUI OUI (proto, petite série) On développe les tests que l'on fournit au cableur pour grande série et que l'on execute pour les protoypes et petites séries. LPC Clermont (D. Lambert) NON OUI OUI . . . OUI OUI . . LPC Caen (P. Laborie) NON . . . Subatech (C. Renard) NON Peut-être NON . . . OUI OUI Utilistion BS interface mais pas de tests BS LLR (R. Cornat) NON OUI . . . . OUI Selon projet OUI Solution commune Ethernet->JTAG pour config chassis avec composants scanxx et FPGAs serai la bienvenue. APC (C. Olivetto) CPPM (A. Calsas) LPNHE (P. Nayman) LUPM (M. Compin) LSM Modane (M. Zampaolo) 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN 2 P 3 G. Perrot 13

Mutualisation ? (1) • • Actuellement 2 laboratoires à l’IN 2 P 3 ont

Mutualisation ? (1) • • Actuellement 2 laboratoires à l’IN 2 P 3 ont des moyens BS. Ce sont 2 produits différents. La maintenance de ces produits coûte cher! Leur taux d’utilisation est faible (moins d’une carte par an en moyenne). • Maintenir l’expertise sur les logiciels demande des moyens. • Un laboratoire seul n’en a plus les moyens. • 6 laboratoires de l’IN 2 P 3 sont intéressés pour un accès à ces outils. 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN 2 P 3 G. Perrot 14

Mutualisation ? (2) • Plusieurs solutions: – Ne rien changer et continuer ou non

Mutualisation ? (2) • Plusieurs solutions: – Ne rien changer et continuer ou non à payer. – Sous-traiter la génération et la réalisation des tests BS. – Acheter et maintenir un outil commun au sein de l’IN 2 P 3: • Quel outil et qui l’achète? • Qui le gère? • Où se trouve l’expertise? – Centre d’expertise chargé du développement des tests? – Expertise distribuée, chacun développe ses tests? 05 -07 Juin 2012 Journées Electroniques IN 2 P 3 G. Perrot 15