Etude en temps rel des proprits dune rsine

Etude en temps réel des propriétés d’une résine photopolymérisable LE BESOIN LES CRITERES A RESPECTER MATERIEL A DISPOSITION

Etude en temps réel des propriétés d’une résine photopolymérisable

Etude en temps réel des propriétés d’une résine photopolymérisable Critères à respecter : Classe Flexibilité Niveau F 0 Nulle Impératif F 1 Faible Peu négociable F 2 Moyenne Négociable F 3 forte Très négociable Critères Niveaux Flexibilités FP 1 : Inscrire un réseau à l’aide de franges d’interférences FP 2 Faisceau YAG doublé 1 = 532 nm (dans le F 0 : Lire lelaser réseau afin de le qualifier Séparatrices domaine de sensibilité de F 0 FC 1 Faisceau laserla sécurité de l’utilisateur Helium-Neon 2 point = 633 de nmla (horsélectrique, F 2 : Assurer d’un vue Filtre spatial et optique résine) F 2 du domaine de sensibilité de la mécanique Lentilles résine) Puissance adaptée à la résine F 0 Mise à lacompact terre du matériel sécurité totale. F 0 FC 2 : Etre et facile d’utilisation. Prisme 50 -50 F 2 Camera à capteur CCD Autre laser pour réseau très fin F 3 électrique FC 3 Système à dimensions Dimensions : taille d’un marbre F 0 : Fonctionner dans le milieu ambiant (laboratoire de mise en œuvre). Expanseur (faisceaux collimatés) Logiciel traitementdes d’images Enregistrement à vitesse élevée F 0 Eviter la de propagation Marbre fabrication Isolation vibratoire sur chambre à F 1 restreintes (1. 20 m x 2 m)? FC 4 : Respecter les exigences de Injection du sous de réel F 1 Analyser lesfaisceau images en temps parasites. faisceaux Lumière ambiante ou obscurité. air Logiciel outil convivial Enregistrement F 3 Machine disponible au Parc F 1 fortesmachine incidences des images lycée Matériel disponible à l ‘IPCMS.

Etude en temps réel des propriétés d’une résine photopolymérisable MATERIEL A DISPOSITION Inscription à l’aide d’un laser YAG doublé d’un réseau de pas supérieur puis inférieur à 1 µm Principe de la lecture à l’aide d’un laser He-Ne par comparaison d’images par mesure de l’angle et du rendement de diffraction