Belle setting adc sub 0 sub 1 sub

Belle検出器

setting /adc sub 0 sub 1 sub 2 sub 3 sub 4 sub 5 /time

イベント構成(全) 全 10000 event sub 0 p 1 n 1 670 p 1 n 0 150 p 0 n 1 1031 p 0 n 0 8092 その他 57 sub 1 6554 486 166 2667 127 sub 2 6655 583 13 2472 277 sub 3 6531 693 13 2476 287 sub 4 6251 940 37 2486 286 sub 5 5795 1257 145 2535 278 /adc sub 0 sub 1 sub 2 sub 3 sub 4 sub 5 /time

P 1 N 0増加原因check Sub 2がp 1 n 1の時 p 1 n 1 p 1 n 0 sub 1 6399 67 sub 3 6501 sub 4 sub 5 Sub 2がp 1 n 0の時 p 1 n 1 p 1 n 0 sub 1 111 388 118 sub 3 2 560 6217 375 sub 4 3 545 5760 683 sub 5 2 527 P 1 n 0 eventはsub→大につれ、 Sub 2がp 1 n 0ならば、それ以後 のsubeventも同様にp 1 n 0である 累積的に増えていく。 両者のp 1 n 0の和は各subのp 1 n 0全体数の 93％以上

Back up

P 1 n 0 -pside

P 1 n 1 -pside

P 0 N 1 -nside ADC 時間/ns

P 1 n 1 -nside

2 D PLOT

setting

RMS P side N side

Position cut P side • ビームが当たっている範囲のみ使用 (p side) apv 1_55 ch~apv 2_127 ch (non floating) apv 3_00 ch~apv 3_45 ch (floating) (n side) apv 5_55 ch~apv 6_127 ch (non floating) apv 7_00 ch~apv 7_45 ch (floating) →bad stripの影響除去 N side • P-sideとN-sideのクラスターの数が 同数であることを要求(1 or 2個) →noise除去 入射角０度のdataから作成 黒：subevent 0 赤：subevent 1 緑：subevent 2 青：subevent 3 黄：subevent 4 桃：subevent 5