AQ Star AQ 1 LED LD 2 SemiConductor

AQ Star

AQ사업부 핵심기술 1. LED / LD 광 및 전기적 측정 2. Semi-Conductor / LED / RF Chip 측정에 필요한 Prober / Handler 장비 구현 3. AMOLED 용 Pattern Generator / Array Tester 구현 4. 반도체 장비의 Hot Test 가능한 Chamber 및 Hot Plate 구현 5. Sorter / Prober / Handler / Taping / Dispensing 등의 다양한 Pick & Place 기술

AQ Star 제품 § LED Tester § LED Test Equipment § AMOLED Tester § SOC Handler

Spectrometer LED Test에 최적화된 Spectrometer 우수한 반복성과 정밀도를 갖춘 다양한 제품 Line형성 TS 1024 TS 2100 Model TS 1024 Spectral range 380 -780 nm Spectral resolution 2. 0 nm TS 2000 380 -780 nm (OP, 200~800 nm) 2. 0 nm Measurement accuracy Dominant wavelength +/-0. 5 nm +/-0. 3 nm Chromaticity(x, y) 0. 002 0. 0015 General Number of pixels 1024 x 128 Integration time 9 ms ~ 2 ms ~ A/D resolution 16 bits Cooling 0℃ 0℃

ESD 인가장비 3000 V/8000 V 양산에 적합한 빠른 Cycle time ESD 3000 ESD 8000 Parameters ESD 8000 ESD 3000 Channel 1 4(Serial) Output Voltage of Power Supply 100 V~8. 0 KV 1 V~3. 0 KV 규격 만족 범위 500 V~8. 0 KV 500 V~3. 0 KV Polarity Positive/Negative(Selectable) 55 ms+Interval Time 25 ms+Interval Time Repetition Cycle Time (최소 충, 방전 시간)

Equipment for LED Test Chip Prober Wafer Prober VSP 6000 VSP 6600 (P 7000) (W 7000) Prober-Sorter (TPS 7) TH 9000 Die-Sorter (TDS 8000) TH 9000 COB

Array Tester OLED TFT 검사 시스템 Array Tester • AMOLED Cell Circuit Tester • ACCT Tester Using Electrical • Characteristic Measurement • Contact Check Function • High-Speed Interface

TOS System OLED 터치 패널 검사 시스템 TOS System • AMOLED Open / Short Tester • AMOLED PROBE System • Contact Check Function • High-Speed Interface

Display/OLED제품 다양한 Application에 대처할 수 있는 제품 Line-up OLED Test System 제품 경쟁우위 요소 § OLED Tester 개발 능력 System Noise를 획기적으로 줄임 으로써 장비의 Accuracy를 높이는 Measurement Unit 대량의 Raw Data를 취득하기 위한 설계와 이를 지원하는 Data Bus & Interface § Engineering 능력 Display/OLED Array Tester OLED Test Equipment(ICE) DATA 분석 Library, Characterization Program을 지원함으로써 효율 적인 Engineering 가능 Test Coverage향상을 위한 DFT, 가성불량 최소화, 하판Board 공용 화 Equipments Display/OLED N 2 Ambient Chamber OLED Aging System(AVI) 다양한 기능의 Test System § ICP Test System § TOS Test System § Array Test System § AVT Test System

Display/OLED제품 • 20채널 동시 & 개별 점등 가능 • 신호기 자가 진단 기능 ◆In Chamber Probing Probe Card◆ - OLED 중소형 원장 Glass의 화질 검사 - 기존 대비 30% 수준의 Low Force 구현 (0. 45 g/mil ) - Particle 발생 최소화 및 Contact 저항 안정화 Array Tester OLED Ellipsometer / ICE AMOLED ICP용 신호기(20 Ch. ) AMOLED ICP용 Probe Unit(20 Ch. ) • OS 검사 가능 • Pin to Pin 검사 가능 • 전류 측정 가능 AVT 신호기 Aging Systm Vehicle Sys’, ODM LCD Stewart Robot AMOLED TFT 검사 장비

Display/OLED제품 N 2 Ambient Chamber LCD Macro Sys’, ODM [39대] Cell Laser Welding System LCD Macmic Sys’, ODM [12대] OLED Prober Sys’/ICP [ODM] LCD In-Line Macro, ODM [3대]

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